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美國TSI 3910 納米顆粒粒徑譜儀由于它使用簡單，重量輕，電池供電等特點，使低成本的實時納米粒徑測量成為可能。

美國TSI 3910 納米顆粒粒徑譜儀  產品簡介

TSI 3910型NanoScan SMPS打開納米顆粒粒徑常規(guī)測量的大門。這一革命性的粒徑譜儀將TSI公司的SMPS?粒徑譜儀集成在約一個籃球大小的便攜箱內。容易使用，重量輕，電池供電等優(yōu)點使NanoScan SMPS讓研究人員多點采集納米顆粒粒徑分布數據成為可能。由TSI核心技術中衍生而來，NanoScan SMPS是一個創(chuàng)新的，低成本的實時納米粒徑測量的有效解決方案。

美國TSI 3910 納米顆粒粒徑譜儀 產品參數
測量模式：掃描 一 粒度分布  
                單顆粒 一 單一粒徑顆粒濃度監(jiān)測
粒徑范圍 ：10至420納米
粒徑通道  ：13
測量時間  ：60秒(45秒上掃．1 5秒回掃)，

粒度分布：1秒，單一粒徑技術模式
粒子濃度： <1,000，000個/cm3
流量： 0.8±5%，進口：0.25±5%．樣品
冷凝液 ：  分析純（99.5%或更高）：異丙醇
注液系統(tǒng) ：溶液機芯（≤6小時運作）：可選外置瓶
零點計數 ： ≤0.01個，
數據存儲選項：3—8天，內置存儲器，可選USB存儲驅動器
顯示： 彩色觸摸屏
通信： USB
預熱時間：<15分鐘
真空源：內置
尺寸（長寬高）：45厘米×23厘米x 39厘米